Технические характеристики

Диапазон анализируемых элементов

B₅ — U₉₂

Максимальное число одновременно анализируемых элементов

16 — кристалл-дифракционных каналов (монохроматоров);
или 15 кристалл-дифракционных канала + 1 энергодисперсионный для качественного анализ до 40 элементов.

Анализируемая проба

Цилиндр D<50 мм; 2<Н<35 мм; Р<0,4 кг
Для порошков — пресс-форма и пылевой фильтр;
Для жидкостей — специальная кювета;
Для повышения контрастности сменная маска для кюветы с открытым отверствием (D) 26 или 32 мм; материал: графит или кадмий

Внутренний накопитель

Ёмкость — 16 проб

Время одного цикла

30 сек (ввод, измерение без вакуума, регистрация, вывод)
40сек (ввод, измерение со стабилизацией вакуума, регистрация, вывод)

Скорость вращения пробы

30 об/мин

Место облучения пробы

Верхняя поверхность

Среда для анализа

Воздух; вакуум; стабилизированный вакуум

Вакуумная система

Центробежный насос GLD-280, форбалон, сорбционная ловушка;
Автоматическое регулирование режимов откачки;
Стабилизация уровня вакуума.

Рентгеновская трубка

4РХВ-8; 3РХВ-6; 3РХВ-2; материал анода- Rh; заказ — Cr, Cu,Re.
Анод — изолированный; Ве-окно от 100 мкМ

Система водяного охлаждения

Автономная, интегрированная со сплит-системой. Поддержание температуры деионизованной воды с точностью ±1.5 °С

Питающее рентгеновское устройство

FF-4 «Spellman» — программно-управляемое, высокочастотное, полярность положительная;
Стабильность — не хуже ±0,005% при U сети= ±10%;
P max кВА — 4 (3)
Ua max кВ — 75 (60)
Ia max мА — 150 (100)

Фильтры первичные вторичные

Максимальное количество — 2; материал: Сu или Al
Максимальное количество — 8; коэффициенты ослабления-2;5;10

Спектрометрические каналы

Фиксированного типа выполнены с применением изогнутых кристаллов — анализаторов по схеме Иоганссона и отдельных по лёгким элементам (В-Cl) по Иоганну.
Применяемые кристаллы-анализаторы: МИС © 2d = 10,065 нм, МИС (О) 2d = 6,18 нм, МИС(F) 2d= 6,12 нм, МИС (Na) 2d = 6,10 нм, МИС (Mg) 2d = 6,22 нм, LiF (200) 2d = 0,4028 нм, RAP(001) 2d = 2,6120 нм, РЕТ 2d = 0,874 нм, Ge (III) 2d = 0,6532 нм; LiF (220) 2d = 0,2848 нм, Graphite (002) 2d=0,6708 нм, InSb 2d = 0,748 нм, МИС45А 2d = 4,5

Детекторы рентгеновского излучения

Сцинтилляционные;
Проточно-пропорциональные c рабочим газом
(90 %Ar, 10 % CH₄) или(88 % Не, 12 % СО₂);
Имеются: система стабилизации и индикации расхода газа;
устройство для очистки и восстановления нити электрода

Термостабилизация спектрометрического объёма

В диапазоне 28 °С-30 °С с точностью не хуже ±0,5 °С

Основная погрешность средств измерения

± 0,2%

Диапазон анализируемых концентраций
(без предварительного обогащения)

1×10-5% — 100%
Более подробная информация о возможности определения содержаний конкретного химического элемента на сайте:
www.nauchpribor.ru